株式会社オハラ

GD-FHT™

フライングハイトテスター用に開発された帯電防止効果のある基準ガラスディスクです。

フライングハイトテスター用に開発された帯電防止効果のある基準ガラスディスクです。

製品紹介

磁気ヘッドの安定浮上を目的として、研究開発や量産現場でフライングハイトテスターを用いた浮上試験が行なわれており、この試験には、浮上量測定用基準ディスクとして透光性材料を使用します。GD-FHT™はフライングハイトテスター用に開発された帯電防止効果のある基準ガラスディスクですので、浮上試験時の帯電現象による磁気ヘッドの破損頻度を大幅に軽減できます。さらに従来材(S-BSL7、合成石英ガラス)並みの透過性・機械的性質を有しています。

特徴

  • 01帯電防止効果

  • 02合成石英ガラス並みの透過性・機械的性質

物性特性

諸性質 GD-FHT™ 従来品
S-BSL7(BK7) 合成石英ガラス
電気的性質 体積抵抗率* Ω・cm 1.1×1011 1.0×1015 1.0×1019
表面抵抗率*** Ω/□ 4.4×1012 1.0×1015 8.6×1014
帯電圧*** kV 0.05 2.6 3.1
半減期*** s 8.9 >30min >30min
機械的性質 ヌープ硬さ** Hk 590 (6) 570 (6) 640 (6)
摩耗度** 53 94 59
ヤング率 GPa 82 80 71
剛性率 GPa 33 33 31
曲げ強度 MPa 107 64 69
ポアソン比 0.22 0.21 0.17
熱的性質 熱膨張係数 10-7/K 33 72 5.5
*温度20℃、湿度60%で測定しました。JIS K6911に準じています。
**日本光学硝子工業規格(JOGIS)に準じています。
***JIS L 1094を参考に測定しました。オハラ独自の方法です。
※半減期は相対的な帯電圧値が半減する時間です。

 

透
過
率
(%)		 波長 nm 400 500 600 700
2.45mmt 89.8 91.4 91.6 92.0
2.76mmt 89.8 91.3 91.6 92.0
4.35mmt 88.5 90.9 91.3 91.6
6.44mmt 87.4 90.7 91.3 91.6
屈
折
率		 436nm 1.539
486nm 1.534
546nm 1.530*
588nm 1.528
633nm 1.526*
656nm 1.525
*計算値：次式で算出 n=0.00482/λ2+1.51362 n:屈折率 λ:波長(μm)

 

仕
様		 外径 mm 48-133
内径 mm 5-10
板厚 mm 2-8
同芯度 μm ≦5-10
内径真円度 μm ≦5-10
平行度 μm ≦5-10
平面度 μm ≦0.5
面粗度 Rmax nm ≦2.5-4.0
上記は技術開発に伴い変更することがあります。

用途例

  • 半導体関連
    半導体関連

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