GD-FHT™
GD-FHT™是本公司研制出的具有防静电效果的硬盘读写磁头测距仪用标准玻璃盘片。
GD-FHT™是本公司研制出的具有防静电效果的硬盘读写磁头测距仪用标准玻璃盘片。
产品介绍
为了保证磁头的稳定浮动，在研究开发或批量生产的现场，使用硬盘读写磁头测距仪来进行浮动测试。在此测试中，测量浮动高度用的基准盘片一般使用透光性材料。
GD-FHT™是本公司研制出的具有防静电效果的硬盘读写磁头测距仪用标准玻璃盘片。它不仅可以大幅度地减小因进行浮动测试时的带电现象而导致的磁头的破损频度，而且保持了和以往材料(S-BSL7、合成石英玻璃)同等的透过性和机械特性。
特征
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01防静电作用
-
02可以比肩合成石英玻璃的透射性与机械特性
物性特性
| 物产 | GD-FHT™ | 常规产品 | ||
|---|---|---|---|---|
| S-BSL7(BK7) | 合成石英玻璃 | |||
| 电气特性 | 体积电阻率* Ω·cm | 1.1×1011 | 1.0×1015 | 1.0×1019 |
| 表面电阻率*** Ω/□ | 4.4×1012 | 1.0×1015 | 8.6×1014 | |
| 充电电压*** kV | 0.05 | 2.6 | 3.1 | |
| 半衰期*** s | 8.9 | >30min | >30min | |
| 机械特性 | 努氏硬度** Hk | 590 (6) | 570 (6) | 640 (6) |
| 耐磨度** | 53 | 94 | 59 | |
| 杨氏模量(Young’s Modulus) Gpa | 82 | 80 | 71 | |
| 刚性率 Gpa | 33 | 33 | 31 | |
| 弯曲强度 Mpa | 107 | 64 | 69 | |
| 泊松比(Poisson’s Ratio) | 0.22 | 0.21 | 0.17 | |
| 热学特性 | 线膨胀系数 10-7/K | 33 | 72 | 5.5 |
| *在温度为20℃、湿度为60%的条件下测量。按照JIS K6911基准。 **以日本光学玻璃工业规格(JOGIS)为基准。 ***参考JIS L 1094进行测量。本公司的独特方法。 ※半衰期指相对的充电电压减少为初期值一半为止的时间。 |
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| 透过率(%) | 波长 nm | 400 | 500 | 600 | 700 |
|---|---|---|---|---|---|
| 2.45mmt | 89.8 | 91.4 | 91.6 | 92.0 | |
| 2.76mmt | 89.8 | 91.3 | 91.6 | 92.0 | |
| 4.35mmt | 88.5 | 90.9 | 91.3 | 91.6 | |
| 6.44mmt | 87.4 | 90.7 | 91.3 | 91.6 | |
| 折射率 | 436nm | 1.539 | |||
| 486nm | 1.534 | ||||
| 546nm | 1.530* | ||||
| 588nm | 1.528 | ||||
| 633nm | 1.526* | ||||
| 656nm | 1.525 | ||||
| *计算值：按照n=0.00482/λ2+1.51362 n:折射率 λ:波长(μm)的公式计算。 | |||||
| 规格 | 外直径 mm | 48-133 |
|---|---|---|
| 内直径 mm | 5-10 | |
| 板面厚度 mm | 2-8 | |
| 同芯度 μm | ≦5-10 | |
| 内直径直率 μm | ≦5-10 | |
| 平行度 μm | ≦5-10 | |
| 平面度 μm | ≦0.5 | |
| 表面粗糙度 Rmax nm | ≦2.5-4.0 |
以上产品的规格有可能随着技术开发的产品改进而更改。
用途案例
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