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硬盘读写磁头测距仪用玻璃基板材(GD-FHT)
 
 
为了保证磁头的稳定浮动,在研究开发或批量生产的现场,使用硬盘读写磁头测距仪来进行浮动测试。在此测试中,测量浮动高度用的基准盘片一般使用透光性材料。

GD-FHT是本公司研制出的具有防静电效果的硬盘读写磁头测距仪用标准玻璃盘片。它不仅可以大幅度地减小因进行浮动测试时的带电现象而导致的磁头的破损频度,而且保持了和以往材料(S-BSL7、合成石英玻璃)同等的透过性和机械特性。
  硬盘读写磁头测距仪用玻璃基板材(GD-FHT)
 

有关上述以外的特性及规格要求,可向本公司咨询与商谈。

 

GD-FHT的特征

各种特性GD-FHT 以往产品
S-BSL7(BK7) 合成石英玻璃
电气特性 体积电阻率* Ω·cm 1.1×1011 1.0×1015 1.0×1019
表面电阻率*** Ω/□4.4×10121.0×10158.6×1014
充电电压*** kV 0.05 2.6 3.1
半衰期*** s8.9>30min>30min
机械特性 努氏硬度** Hk 590 (6)570 (6)640 (6)
耐磨度** 53 94 59
杨氏模量(Young's Modulus) GPa 82 80 71
刚性率 GPa 33 33 31
弯曲强度 MPa1076469
泊松比(Poisson's Ratio) 0.220.210.17
热学特性线膨胀系数 10-7/K33725.5
*在温度为20℃、湿度为60%的条件下测量。按照JIS K6911基准。
**以日本光学玻璃工业规格(JOGIS)为基准。
***参考JIS L 1094进行测量。本公司的独特方法。
※半衰期指相对的充电电压减少为初期值一半为止的时间。




(%)
波长 nm400500600700
2.45mmt89.891.491.692.0
2.76mmt89.891.391.692.0
4.35mmt88.590.991.391.6
6.44mmt87.490.791.391.6


436nm1.539
486nm1.534
546nm1.530*
588nm1.528
633nm1.526*
656nm1.525
*计算值:按照n=0.00482/λ2+1.51362 n:折射率 λ:波长(μm)的公式计算。


外直径 mm48-133
内直径 mm5-10
板面厚度 mm2-8
同芯度 μm≦5-10
内直径直率 μm ≦5-10
平行度 μm≦5-10
平面度 μm≦0.5
表面粗糙度 Rmax nm ≦2.5-4.0
以上产品的规格有可能随着技术开发的产品改进而更改。
 
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